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深圳市泰立仪器仪表有限公司

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美国DAKOTA ULTRASONICS公司超声波测厚仪UMX-2
浏览: 854
品牌: 泰立中科
测量范围: 0.63~508mm(
电源电压: 3V
单价: 32500.00元/台
最小起订量: 1 台
供货总量: 50 台
发货期限: 自买家付款之日起 1 天内发货
有效期至: 长期有效
最后更新: 2021-06-05 10:21
 
详细信息
测量范围 0.63~508mm(
电源电压 3V
分辨率 0.01mm
精度 0.01mm
类型 超声波测厚仪
外形尺寸 长229mm,直径60mm
显示方式 数显
重量 含电池680g
品牌 美国DAKOTA
型号 UMX-2
加工定制
测定对象 金属工件

美国DAKOTA ULTRASONICS公司超声波测厚仪UMX-2

简介

    用于水下检查,额定深度为300米。可存储5000个数据,每次测量的所有UMX-2设置,以及A-扫描波形。RS232数据接口,通过DakView软件下载到计算机。





美国DAKOTA ULTRASONICS公司超声波测厚仪UMX-2技术参数
测量 脉冲-回波(P-E)模式测量范围:0.63~508mm(钢)
回波-回波涂层(PECT)模式测量范围:0.63~508mm(钢),0.01~25.4mm(涂层)
回波-回波(E-E)模式测量范围:2.54~102mm(钢,穿过涂层测量,随涂层厚度的不同,测量范围也会变化)
三重回波(TCG)模式测量范围:1~152mm(钢,穿过涂层测量,取决于涂层厚度、被测材料和探头探头) 
分辨率:0.01mm
声速范围:1250~13995m/s,内置8个声速和1个自定义声速选项
单位:公制或英制 显示 显示屏:一块1/2英寸4位半数字LCD显示屏,一块3/8英寸6位字符LCD显示屏,带背光
耦合指示:表示测量值的稳定性 超声波参数 双晶探头测量模式:脉冲-回波(P-E)模式,脉冲-回波涂层(PECT)模式,回波-回波(E-E)模式(穿过涂层)
单晶探头测量模式:三重回波(TCG)模式(穿过涂层)
脉冲:双方波脉冲
接收:根据选择模式在100dB范围内采用手动或AGC增益控制
手动增益:可调增益(40~52dB),以3dB为步长5个增益设置(超低、低、中、高、超高)
计时:单次100MHz8位超低功耗数字化仪的25MHz TCXO计时 探头 自动探头校零(仅双晶探头)
频率范围:双晶探头1~10MHz ,自动识别;单晶探头1~10MHz,通用
LEMO水下接口,1.2米探头线
可定制用于特殊应用的探头和探头线长度 存储 容量:32M,可存储5000个读数、仪器设置和A-扫描波形图
数据格式:网格(字母数字)和顺序
数据输出:通过RS232接口和USB转接线连接的计算机 电源 标配为三节5号碱性电池 ,可选镍镉电池。
通常条件下碱性电池可工作50小时(背光关闭)或15小时(背光开启),镍镉电池可工作20小时(背光关闭)或8小时(背光开启)
无操作五分钟后自动关机
电量状态指示
 其他 键盘:单键磁耦合开关
工作温度:-29~60℃
尺寸:长229mm,直径60mm
重量:含电池680g 
防水外壳:高强度透明塑料外壳,深度等级为300米
出厂证书:工厂校准可追溯到NIST和MILSTD- 45662A标准

 


美国DAKOTA水下超声波测厚仪UMX-2探头

选择型号

频率

探头晶直径

测量范围

PT-174-2006

5.0MHz

φ12.7mm

1.27~508mm

 原理:超声波测量厚仪根据超声波脉冲反射原理来进行厚度测量的,当探头发射的超声波脉冲通过被测物体到达材料分界面时,脉冲被反射回探头,通过测量超声波在材料中传播的时间来确定被测材料的厚度。

 主要应用在用传统工具(卡尺、千分尺等)不便于测量的地方,还有就是可以实现不破坏结构就能够直接进行


探头选择

型号

频率

探头晶片直径

测量范围

说明

PT-102-2200

5.0MHz

φ6.3mm

1.0~152mm

标准探头

PT-101-2000

5.0MHz

φ4.7mm

1.5~50mm

小管径探头

PT-104-0000

1.0MHz

φ12.7mm

3.8~50.8mm(铸铁中)

铸铁探头

PT-102-1000

2.25MHz

φ6.3mm

1.0~152mm

低频探头

PT-102-3200

7.5MHz

φ6.3mm

0.63~152mm

超薄探头




美国达高特 

公司是一间专门生产工业上所使用的测厚仪及探伤设备. 仪器是采用超声波技术,不需将工件损坏就能作出探伤检查或用作工件厚度或长度测量。


产品系列

超声波测厚仪ZX系列   ZX-3 / ZX-5 / ZX-5DL

超声波测厚仪ZX系列   ZX-6 / ZX-6DL

多功能精密超声测厚仪PVX

多功能超声测厚仪系列

A/B扫描超声波测厚仪MVX

多功能涂层超声测厚仪CMX

多功能涂层A/B扫描超声测厚仪CMX DL+

MINI-MAX超声螺栓应力测试仪

PR-8V精密超声测厚仪

UMX-2 超轻量式水下测厚仪



深圳市泰立仪器仪表有限公司 - 代理许多国际知名的高科技仪器和设备,其中尤以无损检测和金相理化设备为主。包括:超声、涡流、漏磁、磁粉、射线、金相制样、光谱等等。材料检测为产品质量提供了可靠的保证,同时增加了附加成本。但从另一角度考虑这一附加成本,质量保证确实对节约潜在成本提供了有价值的代价。按优化的生产流程您可以获得几个关键性的好处,提高生产效率,降低失效的危险性,同时延长设备的使用寿命。



无损检测

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理化检测

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